Séminaire de Probabilités et Statistique
lundi 11 octobre 2010 à 15:00 - UM2 - Bât 09 - Salle 331 (3ème étage)
Servane Gey (Laboratoire MAP5 -- Universite Paris Descartes)
Bornes de risque pour CART en régression bornée et en classification
Quelques résultats théoriques concernant l'apprentissage statistique dans un cadre borné (régression ou classification) seront présentés. Nous montrerons ensuite comment appliquer ces résultats au cas particulier des arbres de décision, dans le cadre de l'algorithme CART proposé par Breiman et al. en 1984. Nous verrons que les bornes de risque obtenues pour CART permettent de valider la forme de cet algorithme, utilisé dans un cadre très large au niveau des applications